长鑫存储“芯片测试装置及芯片测试的方法”专利公布
集微网 2023-09-08 10:23:44
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集微网消息，天眼查显示，长鑫存储技术有限公司“芯片测试装置及芯片测试的方法”专利公布，申请公布日为9月5日，申请公布号为CN116699355A。
图片来源：天眼查
专利摘要显示，本公开涉及一种芯片测试装置及芯片测试的方法。所述芯片测试装置包括：底座，包括用于承载待测的芯片的第一容纳腔，所述底座还用于向所述芯片传输测试信号，所述芯片上具有标识；上盖，设置于所述底座上方，用于封闭所述第一容纳腔；信息采集组件，至少部分设置于所述上盖内，用于获取并识别所述芯片上的所述标识。
据悉，本公开减少了芯片测试过程中易出现芯片信息缺失的问题，简化了芯片测试操作。（校对/赵碧莹）
